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Projektbezeichnung / -inhalt |
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Bildanalyse zur Aufbereitung von Ultraschalldaten |
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System zur automatischen Druckbildinspektion |
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Lesesystem für Seriennummern von Automobilbaugruppen |
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Kamerabasiertes Messsystem zur Prüfung des Elektrodenab-
standes |
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Kamerabasiertes Erkennungssystem für PE-Folienschlingen |
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Prüfautomat für Probekörper aus PET-Kunststoff |
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System zur automatischen Bahnkorrektur eines Fräsbohrplotters |
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Inspektionssystem für Brikettpakete |
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Aluminiumgießerei Erlau GmbH, Hildburghausen
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Hohlrauminspektion - System zur Inspektion von langen Bohrungen in Aluminiumguss |
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LH Systems GmbH, Schweiz
DLR, Inst. für Weltraumsen-
sorik und planetare Erkun-
dung, Berlin
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Targetbezogene True-Color-Kalibrierung für ADS40 von LH Systems |
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SIOS GmbH, Ilmenau
TU Ilmenau, Institut für Prozeß-, Meß- und Sensortechnik
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3D - Nanomeß- und Positioniertechnik, Ultraprä-
zisions - Koordinatenmessmaschine |
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Fraunhofer IOF, Jena
IVB GmbH, Jena
JENOPTIC L.O.S. GmbH
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3D - Datenerfassung und -verarbeitung, Messalgorithmen, Punktewolkenverbesserung, -triangulation und -auswertung |
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ILMCAD GmbH, Ilmenau
Fraunhofer IOF, Jena
TU Ilmenau
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3D - Objektbildung und - manipulation |
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Multisensorieller Scanner für die Nutzholzinspektion (Farbe, Tracheide und 3D) |
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Hommelwerke, Jena
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Grosses Wellenmesssystem, hochpräzise Meßalgo-
rithmen, Beachtung optischer Effekte bei der Abtastung von Kanten und Krümmungen |
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Luis Gasser AG, Ziegelei Rapperswil
Dachziegelwerke Pfleiderer,
Höngeda
Ziegelwerke Röben u.a.
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Fehlerdetektion und Vermessung von grobkeramischen Erzeugnissen zur Qualitätssicherung |
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Suchy Textilmaschinen
GmbH, Korbußen
Thorey GmbH Gera u.a.
EUTIST-IMV-Cluster
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Bildauswertende Verzug- und Rapportmessung zur automati-
schen Steuerung von Richtmaschinen
Teilbeitrag auf den EUTIST-Seiten zu IMTEX |
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VDMA Frankfurt
AiF Berlin
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Neue Bildverarbeitungstechnologien (Warenschau, Textilien, Druck) |
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JENOPTIK-AT GmbH
SIELMETRIC GmbH, Jena u.a.
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Sanierung von gemauerten Abwasserkanälen - Erken-
nung der Fugenstruktur zur Sanierung des Mauerwerks |
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JENOPTIK GmbH
JENOPTIK Technologie
GmbH
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Defektdetektion und Defektklassifikation auf strukturierten Wafern |
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Sternwarte Sonneberg
TU Ilmenau
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Moderne Verfahren der Bildrestauration, Anwendung für die Digitalisierung und Analyse astronom. Himmelsaufnahmen |
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DLR, Inst. für Weltraumsen-
sorik und planetare Erkun-
dung, Berlin
TU Ilmenau
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Datenkompression, Fehlerverhalten von Kodes, Stereoanalyse für Wide Angle Optical Stereo Scanner WAOSS im internationalen Projekt Mars 94/96 |
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