Definition von Parametern für die Nanometrologie
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Das Zentrum für Bild- und Signalverarbeitung ist an der Entwicklung einer Nanopositionier-
und Nanomessmaschine (NPM) beteiligt. Dabei handelt es sich um eine Messmaschine, welche ein Messvolumen von 25 mm x 25 mm x 5 mm bei einer Auflösung von 0,1 nm hat. Ziel des ZBS ist es, eine Gerätesoftware zu entwickeln, die zum einen Komponenten aus der Koordinatenmesstechnik und zum anderen Komponenten zur 3D-Charakterisierung von Objektoberflächen beinhaltet.
Für die Beschreibung von makroskopischen Oberflächen wurden zahlreiche Kenngrößen definiert. Diese sind zum Teil auch standardisiert. Einige dieser Kenngrößen lassen sich auf die Nanometrologie übertragen, jedoch hat sich gezeigt, dass die Aufgabenstellungen in der Nanometrologie neue Beschreibungsformen erfordern. Einerseits sind dies Kenngrößen einzelner Materialien (Kristallgitter, Punktdefekte, Verschiebungen), andererseits aber auch Strukturübergänge zwischen gleichen oder verschiedenen Materialien.
Unter Verwendung eines AFM (Atomic Force Microscope) sind die Besonderheiten in der Nanometrologie herauszuarbeiten und erste Parameterdefinitionen herzuleiten. Dazu kann es erforderlich sein im ZENTRUM FÜR MIKRO- UND NANOTECHNOLOGIE Aufnahmen von verschiedenen Werstoffoberflächen durchzuführen.
Zur Bearbeitung ist neben allgemeinen Programmierkenntnissen in C eine systematische Arbeits-
weise von Vorteil.
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Aufgaben:
- Einarbeitung in die Nanometrologie
- Erarbeitung eines Überblicks zu typischen Problemstellungen in der Nanowelt
- Erarbeitung geeigneter Definitionen zur Charakterisierung von Nanooberflächen unter Berücksichtigung von Fachliteratur
- Praktische Umsetzung und praxisbezogene Bewertung der Parameterdefinitionen
- Dokumentation der Ergebnisse
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Ansprechpartner bzw. Betreuer:
Dipl.-Ing. Torsten Machleidt, Tel.: 03677-695068
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Kooperierende Einrichtungen:
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