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Wir bedanken uns bei all unseren Besuchern für Ihr Interesse und die anregenden Gespräche.
Wir freuen uns auf Ihre baldige Kontaktaufnahme ! Nutzen Sie dazu die unseren Exponaten zugeordneten Kontaktinformationen!
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| November 2008 |
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Auf der diesjährigen VISION 2008 vom 04.-06.11.2008 in Stuttgart waren wir mit Exponaten
- zur berührungslosen Oberflächenmesstechnik mittels Weißlichtinterferometrie
(D. Kapusi ),
- zu Softwarelösungen für die Bildverarbeitung (D. Kollhoff ),
- zur Industriellen Qualitätssicherung - Bildverarbeitungssysteme für die Druckbildkontrolle (D. Kollhoff ).
vertreten.
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| Oktober 2008 |
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Auf der diesjährigen Internationalen Fachmesse für Feinwerktechnik, Ultrapräszision, Micro- und Nanotechnologien MiNaT 2008 vom 07.-09.10.2008
in Stuttgart waren wir mit Exponaten
- zur berührungslosen Oberflächenmesstechnik mittels Weißlichtinterferometrie
(D. Kapusi )
vertreten.
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| Juni 2008 |
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Auf der diesjährigen OPTATEC 2008 vom 17.-20.06.2008 in Frankfurt/Main informierten wir am Gemeinschaftsstand der Mikrotechnik Thüringen e.V.
u.a. über unser Produkt- und Dienstleis-
tungsangebot in den Bereichen
- berührungslose Oberflächenmesstechnik mittels Weißlichtinterferometrie
(D. Kapusi ),
- Softwarelösungen für die Bildverarbeitung (D. Kollhoff ),
- sowie innovative Lösungsansätze zur quasi-spektralen Farbmessung (R. Nestler ).
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| Mai 2008 |
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Auf der Sensor & Test 2008 vom 06.-08.05.2008 in Nürnberg präsentierte das ZBS am Stand unseres Kooperationspartners MAZeT GmbH
gemeinsam erarbeitete Forschungsergebnisse zum Einsatz von Mehrbereichssensorik zur spektral-nahen absoluten Farbmessung.
(R. Nestler )
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| April 2008 |
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Auf der diesjährigen Hannovermesse waren das ZBS und die GBS am Gemeinschaftstand der Landesentwicklungsgesellschaft (LEG) Thüringen vertreten.
Gegenstand unserer Ausstellung waren u.a. ausgewählte interessante Produktlösungen und Ansätze aus dem Bereichen
- Softwarelösungen für die Bildverarbeitung - VIP-Toolkit (D. Kollhoff )
,
- Farbe / Farbsensorik - Methodik und Komponenten zur objektiven Farbmessung mit Mehrbereichsmesssystemen (R. Nestler ),
- Industrielle Qualitätssicherung - Bildverarbeitungssysteme für die Druckbildkontrolle (D. Kollhoff ).
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